IEC 60748-2-3-1992 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第3节:HCMOS数字集成电路(54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列)空白详细规范

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【英文标准名称】:Semiconductordevices;integratedcircuits;part2:digitalintegratedcircuits;section3:blankdetailspecificationforHCMOSdigitalintegratedcircuits(series54/74HC,54/74HCT,54/74HCU)
【原文标准名称】:半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第3节:HCMOS数字集成电路(54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列)空白详细规范
【标准号】:IEC60748-2-3-1992
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1992-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数字集成电路;MOS电路;HCMOS;集成电路;详细规范;电子设备及元件;半导体器件;电子工程;空白格式
【英文主题词】:Blankforms;Detailspecification;Digitalintegratedcircuits;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;HCMOS;Integratedcircuits;MOScircuits;Semiconductordevices
【摘要】:PartoftheIECQualityAssessmentSystemforElectronicComponents,itisoneofaseriesofblankdetailspecificationsforsemiconductordevicestobeusedwithIEC747-10/QC700000:Semiconductordevices,Part10:Genericspecificationfordiscreted
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:25P.;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Testmethodforautomaticdoorsystems
【原文标准名称】:自动门系统的试验方法
【标准号】:JISA1551-1995
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1995-11-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonArchitecture
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:门;自动控制系统
【英文主题词】:doors;automaticcontrolsystems
【摘要】:この規格は,建築物の開口部に用いる自動ドア開閉装置()以下,開閉装置という。)の試験方法について規定する。注()自動ドア開閉装置とは,JISA4702に規定するドアセットに開閉のための制御部及び駆動部(懸架部を含む。)を取り付け,歩行者などを検出するセンサ部による信号でドアが開閉する装置。また,ここでいう自動ドア開閉装置とは,スライディングドア(上げ下げは除く。),スイングドア及び回転ドアに使用する装置をいう。
【中国标准分类号】:Q20;P70
【国际标准分类号】:91_060_50
【页数】:21P;A4
【正文语种】:日语