IEC 60749-40-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-10 20:38:59
浏览:9585
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part40:Boardleveldroptestmethodusingastraingauge
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法
【标准号】:IEC60749-40-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definitions;Droptests;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Errordetection;Heightoffall;Integratedcircuits;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Parameters;Powerelectronics;Printed-circuitboards;Qualityassurance;Reliability;Resistancestraingauges;Semiconductordevices;Semiconductors;Specimens;Surfacemounting;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:44P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法
【标准号】:IEC60749-40-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definitions;Droptests;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Errordetection;Heightoffall;Integratedcircuits;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Mechanicaltesting;Parameters;Powerelectronics;Printed-circuitboards;Qualityassurance;Reliability;Resistancestraingauges;Semiconductordevices;Semiconductors;Specimens;Surfacemounting;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:44P;A4
【正文语种】:英语
下载地址:
点击此处下载